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FIB試料調整用試料台(Fine Grid)

高精度、極薄形状のグリッドだからできる。あなたの高精度な試料分析をサポート。

FIB試料調整用試料台(Fine Grid)は、顕微鏡などの作業でお使いいただける試料台です。

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概要とポイント

FIB試料調整用試料台「Fine Grid」は、多様な分析試料に応じて最適な試料台をお選びいただくことができます。

※FIB試料調整用試料台(Fine Grid)は、ウインセス株式会社の商品です。

POINT1 極めて薄い試料固定部

極めて薄い試料固定部により、薄片化時のリデポジションの低減が期待できます。

約5μmの試料固定部

POINT2 多様な素材をラインナップ

多様な素材をラインナップしておりますので、分析対象に応じて最適なグリッドを選択頂けます。

4種類の素材

品番 材質 厚み(μm)
SG-002Mo モリブデン 30(※)
SG-003Ni ニッケル 30
SG-003Cu 30
SG-003Ti チタン 30

※先端部は薄い形状です。(約15μm)

POINT3 試料固定部認識用ピンホール有り

試料固定部認識用のピンホール、表裏認識用の円形パターンがあり、分析試料が認識し易い構造となっています。

試料固定部認識用ピンホール

FIB試料調整用試料台(Fine Grid)

006-SG002MO
006-SG003NI
006-SG003CU
006-SG003Ti

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